mems陀螺仪晶圆级测试map图
上右图,是各个分bin map图形,为了更清楚的看清各个分bin的分布,我们
stdf统计分析工具
而值最低的defect d,经过graph builder画出wafer map后图形确实不
半导体测试 lot,wafer,bin,die,分别对应的是图中的那些?
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